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論文

Study of inner shell excitation effect on C-H dissociation in aromatic hydrocarbon solids

下山 巖

放射光, 12(4), p.59 - 60, 1999/09

http://www.jssrr.jp/journal/12-4.html

表面とバルクでの結合切断に関する内殻励起効果を調べるため、ベンゼン凝縮層の光刺激イオン脱離(PSID)の研究とアントラセン単結晶の色中心生成の研究を行った。ベンゼンのPSIDでは2次効果も含まれたTIY/AEYからC-H解離効率$$eta$$$$_{d}$$(h$$nu$$)を評価した。h$$nu$$=285eVの$$pi$$$$^{ast}$$(e$$_{2u}$$)$$leftarrow$$1sとh$$nu$$=287eVの$$sigma$$$$^{ast C-H}$$$$leftarrow$$1sの内殻共鳴励起において$$eta$$$$_{d}$$(287eV)/$$eta$$$$_{d}$$(285eV)$$sim$$4であった。AEICO分光法を用いて1次効果のみによる$$eta$$$$_{d}$$(h$$nu$$)を調べた結果$$eta$$$$_{d}$$(287eV)/$$eta$$$$_{d}$$(285eV)$$sim$$10であった。両者の結果より1次効果と2次効果の寄与率を求めることに成功した。アントラセン単結晶の色中心生成では炭素K端エネルギー領域において色中心生成量子効率$$eta$$$$_{c}$$(h$$nu$$)はわずかに内殻励起により増加する結果を得た。しかし、$$pi$$$$^{ast}$$$$leftarrow$$1sにおいてn$$_{c}$$(h$$nu$$)の抑制は観測されなかった。これらの結果よりバルクによりC-H解離効率では2次効果が表面よりも支配的であること結論した。

論文

内殻励起による芳香族炭化水素固体の放射線損傷の研究

下山 巖

放射線化学, (68), p.17 - 21, 1999/09

http://ci.nii.ac.jp/naid/10010162882

表面とバルクでの結合破壊に関する内殻励起効果を調べるため、ベンゼン凝縮層の光刺激イオン脱離(PSID)の研究とアントラセン単結晶の色中心生成の研究を行った。ベンゼンのPSIDでは2次効果も含まれたTIY/AEYからC-H解離効率$$eta$$$$_{d}$$(h$$nu$$)を評価した。h$$nu$$=285eVの$$pi$$$$^{ast}$$(e$$_{2u}$$)$$leftarrow$$1sとh$$nu$$=287eVの$$sigma$$$$^{ast C-H}$$$$leftarrow$$1sの内殻共鳴効果において$$eta$$$$_{d}$$(287eV)/$$eta$$$$_{d}$$(285eV)$$sim$$4であった。AEPICO分光法を用いて1次効果のみによる$$eta$$$$_{d}$$(h$$nu$$)を調べた結果$$eta$$$$_{d}$$(287eV)/$$eta$$$$_{d}$$(285eV)$$sim$$10であった。両者の結果より1次効果と2次効果の寄与率を求めることに成功した。アントラセン単結晶の色中心生成では炭素K端エネルギー領域において色中心生成量子効率$$eta$$$$_{c}$$(h$$nu$$)はわずかに内殻励起により増加する結果を得た。しかし、$$pi$$$$^{ast}$$$$leftarrow$$1sにおいて$$eta$$$$_{c}$$(h$$nu$$)はあまり抑制されなかった。これらの結果よりバルクにおけるC-H解離効率では2次効果が表面よりも支配的であると結論した。

論文

Fast fluorescence decay of naphthalene induced by Ar ion irradiation

田口 光正; 青木 康; 南波 秀樹; 渡辺 立子*; 松本 裕一*; 平塚 浩士*

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 132(1), p.135 - 141, 1997/00

https://doi.org/10.1016/S0168-583X(97)00422-9
 被引用回数：8 パーセンタイル：56.73(Instruments & Instrumentation)

TIARA内のサイクロトロンに接続した垂直ポートに時間分解発光測定を行うためのシングルフォトンカウンティングシステムを構築した。高分子フィルム中のナフタレンにArイオン照射したところ、S$$_{1}$$励起状態からの発光が観測された。さらに発光減衰を測定したところ早い成分が観測され、LET依存性を示すことが分かった。これはシミュレーションの結果、LETの増加にともない励起される分子の数が相対的に増えることが原因であることが分かった。

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